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深圳市千百順科技有限公司

ICT檢測儀測試盲點的問題

  不可測零件或不穩定測試程序
  〔電容〕:
  小電容并聯大電容:C1=1nf,C2=1uf(相差10倍以上),
  C1《《C2,C1無法準確測量。
  2.電容并聯電感:需用交流電信號以相位分離法檢測,但有誤差,不易測出。
  (電容并聯小電阻):
  小電容300PF:標準值易偏高,較受旁路干擾,標準值易變更、不穩。
  電容極性裝反:(他牌之可測率約30~50%,視線路特性而定),ADSYS ECJ技術百分之100檢測,無誤漏判。
  〔電阻〕:
  電阻并聯電容:因為電容之充放電效應,測量值轎標準值偏低,延遲時間不可超過500 M Sec重復測試不可超過5次,測試較不穩。
  電阻并聯電阻:測量值Rx=R1*R2/(R1+R2)=須修改標準值,并聯電阻若有誤差值,不易測試出。
  電阻并聯電感:在直流信號源下是近似短路,所以無法被準確測出。
  電阻并聯跳線:所有的電流皆流經跳線,所以電阻無法被測出。
  小電阻并聯大電阻:大電阻無法量測。(相差20倍以上)
  〔二極管〕:
  二極管與電感并聯:二極管無法準確測量。
  二極管與跳線或保險絲并聯:二極管無法準確測量。
  齊納二極管(Zener Diode):量測電壓為它的崩潰電壓,超過系統量測范圍。(他牌未加高壓測試電路板的機型為10V)
  二極管并聯二極管:無法測量,ADSYS可以用DR Mode測試,可以準確量測。
  〔其它〕:
  振蕩器(XTAL)功能是否正常。(振蕩器是以小電容方式作量測,4MHz以下可以量測漏件)
  IC之保護二極管并聯本身或其它IC之保護二極管,致IC腳空焊或折腳無法量測。
  單端點之線路斷線無法測試。

2022年9月15日 14:45
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